集成电路测定仪可对器件好坏判别，型号判别，老化测试，器件代换查询，内部RAM数据修改，EPROM、EEPROM器件读出写入。
数字IC测试仪适用范围：
1.维修电子产品，判断其集成电路故障。
2.破译被抹去型号集成电路的真实型号。
3.烧写EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
4.开发电子产品，调试程序。
5.检验新购器件的。
NICT-33C数字IC测试仪|集成电路测试仪功能特点：
1.器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。
2.器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
3.器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
4.器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。
5.内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
6.微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据。
7.ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
9.ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。
数字IC测试仪主要参数：
电源电压：AC220V±15%，50HZ。
整机功耗：15VA。
测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
编程电压：12.5V，21V。
测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
输入位数：3——6位。
适用温度：0——40℃。
测试规范：输入短路测试；输出短路测试；功能测试。
输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
数字IC测试仪主要构成：
1.CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
2.程序存储器：128K  EPROM。
3.RAM缓冲区：128K静态RAM。
4.显示器：8位液晶显示器。
5.操作键盘：20位轻触式按键键盘。
6.输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
7.机箱：塑结构机箱。
数字IC测试仪随机附件：
主机                                        1台
产品说明书                            1本
器件测试板                    1块
产品保修单                            1份
连接插针                                2根
通讯光盘                                1张
通讯电缆                                1根
电源线                                    1根