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低频大功率晶体管fT测定仪的性能指标
发布时间:2016-12-09 阅读:491
NIQJ-30低频大功率FT测试仪|低频大功率晶体管fT测定仪产品简介:
仪器是测量NPN,PNP型大功率晶体管特征频率fT 设备,测量频率为0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz四个点频,测量范围为0.3MHz-100MHz并能在上述点频测量器件之高频正向共发射电流增益hfe。本仪器由主机和三个测试盒组成,可测F1、F2、F3、F4、G3、G4六种管壳的低频大功率管,外接偏置高压电流源之偏置范围为0-50V,0-。
低频大功率fT测试仪性能指标:
测量频率:0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz误差:≤±1×10-4、稳定度:≤±5×10-4小时
测试接收机中心频率:0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz误差:≤±1×10-4,灵敏度:≤150μV
高频衰减器衰减量及工作误差:
档 hfe:3   9.54db±0.5db
第二档 hfe:10  20db±0.1db
第三档 hfe:30  29.54db±0.2db
测试回路恒流阻抗:≥2KΩ
fT测量范围:额定范围     范围
fM=0.3MHz   0.3MHz-3MHz  0.6MHz-2.4MHz
fM=1.0MHz   1.0MHz-10MHz 2MHz-8MHz
fM=3MHz     3.0MHz-30MHz 6MHz-24MHz
fM=10MHz    10MHz-100MHz 20MHz-80MHz
高频正向共发射短路电流放大系数模︱hfe︱测量范围:2-30
特征频率fT测量误差:≤±10%
高频正向共发射短路电流放大系数模︱hfe︱测量误差:≤±10%
外接偏置电压、电流范围和精度要求:
电压范围:0-50V
电压精度:≤±2.5%
电流范围:0-
电流精度:≤±2.5%
校准误差:≤±2×10-2小时
适应管型:F1、F2、F3、F4、G3、G4
 
 

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